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?內摩擦角表示粉體內部顆粒層間的摩擦特性，粉體內部任一點會承受四周顆粒的作用致使顆粒滑動形成相互之間的摩擦。摩擦角有以下幾種測量方法：（1）倉流試驗法（bin-flowtest）：在料倉底部開有小孔，倉內粉體通過該孔自由降落，顆粒移動面與水平面的夾角，即為該粉體的內摩擦角。（2）圓棒張力實驗法（rod

?根據 GB1482 或 ISO4490，金屬粉體流動性通常用霍爾流速計來測量。測量過程是稱量 50g±0.1g 樣品，用手指堵住漏斗小孔，將樣品倒入漏斗，在快速移開堵小孔的手指同時啟動秒表（精度 0.2s）計時，直到粉樣流盡時刻立即停止計時，通過 50g 粉體流過小孔的時間的長短來評價金屬粉體的流動

? 測量安息角有兩種方法，一種是注入角法，指從某一高度粉體注入到大的平板上所形成的錐體斜面的角度。另一種是排出角法，指將粉體注入到較小直徑的圓板上后當粉體堆積到圓板的邊緣時，粉體開始從邊緣排出，此時圓板上粉體形成的堆積角為排出角。由于排除角法體積較小，操作簡便，因此實際測量安息角時常用排除角法。

?利用汞對固體表面的不浸潤特性，將汞壓入多孔材料的空隙中，根據汞壓入空隙內的總壓力與孔徑成反比的關系，求得多孔材料孔徑分布及其特性的方法。壓汞法是測量中孔和大孔孔徑分布的一種方法。目前所用壓汞儀使用壓力最大約200MPa，適合測量孔徑范圍在0.0064-950μ ｍ的材料。也常用壓汞儀來檢測混凝土、砂

?氣體吸附法是在恒溫條件下，通過測定樣品在一系列分壓下對背吸附氣體的飽和吸附量獲得吸附—脫附等溫線，以求得樣品比表面積孔徑分布的方法。求得樣品比表面和孔徑分布的理論基礎是BTE理論，也叫多孔物質的多分支層吸附理論，它是建立在 Langmuir 方程之上并對其修正的一種方法，是計算比表面的普遍理論。

?本系統包括帶自動載物臺和自動對焦系統的金相顯微鏡、控制系統、高分辨率CCD 和軟件系統四部分組成。與普通的靜態圖像粒度粒形分析系統不同的是，本系統可實現自動拍攝和圖像還原，其過程是自動載物臺在控制系統的控制下能一小步一小步地移動，每移動一步顯微鏡就拍攝一幅圖像，自動載物臺能連續一行一行地掃描，CCD

?鞘流技術也叫液體聚焦技術，它是通過在樣品流的四周包圍一層流速更高的鞘液流，來約束樣品流中的顆粒不發散，使它們沿著近似直線的路徑流動，如果將這個近似直線的樣品流設置在鏡頭的焦平面上，則所有顆粒都將在焦平面上通過鏡頭，顆粒圖像將很清晰，保證了圖像粒度粒形分析的準確性。如果不采用這種技術，由于顆粒發散產生

?通過對顆粒數量和每個顆粒投影所包含的像素數量的統計，計算出每個顆粒的等圓面積，從而得到顆粒的等圓面積直徑，進而得到粒度分布，還能通過長徑，短徑計算出長徑比和球形度等粒形參數。圖像顆粒分析系統包括光學顯微鏡、數字CCD 攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機等部分組成。它是將傳統的顯微測量方法與現代

?電阻法（庫爾特）顆粒計數器粒度測量原理是小孔電阻原理，如圖所示。小孔管浸泡在電解液中，小孔管內外各有一個電極，電流通過孔管壁上的小圓孔從陽極流到陰極。小孔管內部處于負壓狀態，因此管外的液體將流動到管內。測量時將顆粒分散到液體中，顆粒就跟著液體一起流動。當其經過小孔時，小孔的橫截面積變小，兩電極之間的

? 分散在液體（特別是水）中的顆粒對液體中離子有選擇性吸附作用，加上固液兩相對電子的親和性不同，往往致使顆粒表面帶電。帶電顆粒周圍的溶液中將富集帶相反符號的離子（即反離子），其中一部分反離子與顆粒表面緊密結合，構成固定吸附層，或稱 Stern 層，另一部分反離子由于靜電吸引和熱擴散兩種相

?沉降法是通過測量顆粒在液體中的沉降速度來反映粉體粒度分布的一種方法。在液體中大顆粒沉降速度快，小顆粒沉降速度慢。沉降速度與粒徑的數量關系我們可以從下面的 Stokes 定律的數學表達式得到：從上式可以看到，顆粒的沉降速度與粒徑的平方成正比，可見在重力沉降中顆粒越大沉降速度越快。比如在相同條件下，兩個

?在傳統的動態光散射法粒度測試中，為了避免復散射 (Multiple scattering) 現象，需要盡量降低樣品的濃度，有時甚至看上去都是澄清透明的。而實際上大多數膠體產品原樣的濃度都在5%以上，外觀是渾濁的。對這樣的樣品，用傳統光子相關光譜法分析前要做高倍率的稀釋，這既不便于使用，又可能會破壞膠

?動態光散射（Dynamic Light ScatteringDLS)， 也稱光子相關光譜（PhotonCorrelation Spectroscopy PCS) 法，是一種常規的納米粒度表征方法，具有準確、快速、可重復性好等優點。隨著儀器的更新和數據處理技術的發展，現在的動態光散射儀器不僅具備測量粒

?振實密度是將裝有粉末或顆粒的刻度量筒固定在機械振動裝置上，振動電機帶動機械振動裝置垂直上下振動，裝有粉或顆粒的刻度量筒隨機械振動裝置而發生有節拍的振動，隨著振動次數的增加，刻度量筒里的粉末或顆粒逐漸振實，振動次數達到設定的次數后，機械振動裝置停止振動，讀出刻度量筒的體積，根據密度的定義：質量除以體積

?由激光器發出的一束激光，經濾波、擴束、準值后變成一束平行光，在該平行光束沒有照射到顆粒的情況下，光束穿過富氏透鏡后在焦平面上匯聚形成一個很小很亮的光點——焦點，如下圖所示：當樣品通過分散系統均勻送到平行光束中時，顆粒將使激光將發生散射現象，一部分光向與光軸成一定的角度向外散射，如下圖所示。理論與實踐

? 釹鐵硼顆粒帶有較強的磁性，極易團聚，因此不能用濕法測試。而干法是通過高速氣流瞬間分散，可以克服磁性引起的團聚，因此干法激光粒度儀成為測量釹鐵硼的粒度分布的典型方法。但是由于釹鐵硼粉在空氣中具有自燃性，就是暴露在空氣中的釹鐵硼粉在環境溫度稍高時就會自燃，因此常常會燒毀吸塵器管路和濾網，使粒度測試

?在粒度測試過程中，有時會出現數據異常的情況，如重復性不好、同一個樣品結果與之前有差異等。這樣的情況一般是由以下幾個原因造成的。1、環境異常：粒度儀的使用環境應該滿足以下條件，一是室溫在10℃~30℃之間，并且介質溫度要與室溫相同或相近，若介質與室溫溫相差過大會導致樣品池結霧而影響測試結果。二是實驗臺

?影響激光粒度儀分辨力的因素很多：（1）光電探測器數量，數量越多分辨力越高。（2）反演算法的優劣，好的反演算法分辨力高。（3）分布模型，多峰模型分辨力高，單峰模型分辨力低。（4）富氏鏡頭，相差小的富氏鏡頭分辨力高，相差大的富氏鏡頭分辨力低。

? 分辨力的定義是能被激光粒度儀有效辨別的兩個樣品的最小差值。分辨力是和重復性、準確性同等重要的指標，是衡量一臺激光粒度儀性能高低的主要指標。由于目前沒有評價激光粒度儀分辨力的標準樣品，因此要定量評價激光粒度儀分辨力有困難。但用戶可以通過簡單的方法定性評價你所用的激光粒度儀的分辨力。用兩種標稱值差

?在測試過程中通常用遮光率這個相對值來表征懸浮液的濃度的， 遮光率的大小是由懸浮液中的顆粒個數決定的——懸浮液中顆粒數越多，散射光越強，遮光率越高；懸浮液中的顆粒數越少，散射光越弱，遮光率越低。為了達到一定的遮光率，對粒度越粗的樣品所需的顆粒數量就多；對粒度越細的樣品，只要很少一點樣品顆粒數就很多，因

? 超細化、納米化是現代粉體材料研究和生產的趨勢，為滿足對這些材料的精確粒度分析，激光粒度儀的測量范圍也向超細化、納米化方向發展，所以現代高性能的激光粒度儀的測量下限已經達到 20nm 甚至 10nm，而樣品折射率（包括吸收率）是 Mie 散射精確求解的一個重要條件，如果折射率錯誤，將導致粒度測試

? 光在真空中的速度與光在其它材料中的速度的比值叫做折射率。樣品的折射率越高，表明入射光發生折射的能力就越強。吸收率是指光照射到顆粒上熱輻射能被吸收的量與投射到顆粒上的總熱輻射能量之比。在激光粒度分析軟件系統中，折射率是用復數表達表示，它的實部是實際折射率，虛部就是吸收率。現代激光粒度儀的軟件系統

? 一般由兩種方法，一是采取多次取樣法，即用小勺少量多次加樣，每加一次樣觀察一下遮光率的變化，當達到預設值時就停止加樣進入分散和測試階段。二是采用定量取樣法，即對同一規格的粉體樣品，先實驗確定在最佳遮光率時所需要的樣品量，以后每次測試時都用天平稱量相同量的樣品并全部加入到儀器中測試，就可以一次達到

? 遮光率是指被顆粒散射和吸收掉的光占光總量的百分比，是激光粒度測試中用來表示懸浮液光學濃度的一個量。遮光率的計算方法是原始光強 I0 與加入樣品后探測器中心點的光強 Ii 的差除以 I0 再乘以 100% 得到，即遮光率 =（I0-Ii）/I0×100%。一般遮光率的范圍在 10±5 之間。在實

? 粒度分布測量中所顯示的“濃度”一般是所接收的光信號的大小，是與顆粒數目有關的量，一般稱光學濃度而不是百分比濃度。對激光法來說，懸浮液中顆粒數越多，光學濃度越大（但如果顆粒太多，光被超量遮擋，光學濃度反而減小）；對沉降法來說，懸浮液中顆粒數 越多，光學濃度越小。

? 激光粒度儀測量粒度的原理是米氏散射理論。米氏散射理論用數學語言精確描述折射率為 n、吸收率為 m、粒徑為 d 的球形顆粒，在波長為 λ 的激光照射下，散射光強度隨散射角 θ 變化的空間分布函數，此函數也稱為散射譜。根據米氏散射理論，大顆粒的前向散射光很強而后向散射很弱；小顆粒的前向散射光弱而后

? SOP 是英文 Standard Operation Program的縮寫，即“標準化操作程序”。現在，智能激光粒度儀中都配有 SOP 功能來實現粒度測試過程自動化、標準化，實現“一鍵操作”。SOP 不僅能降低了操作人員勞動強度，更重要的是規范了測試條件，減少了人為因素導致的結果偏差，提高了測

? 由于小角度探測器距離探測器中心僅有100微米左右，這樣因機械振動、熱脹冷縮、桌面不平等因素導致的光路系統偏移或扭曲，很容易使主光束偏離探測器中心點而照射到小角度探測器上，致使這些探測器因飽和而失效，無法探測到大顆粒產生的散射光信號從而導致錯誤的結果。自動對中系統在激光粒度儀中的作用是隨時保證探

?一般的，粒度分布測量是通過系統識別和接收光信號來實現的。 而光信號的強弱又是由懸浮液中的顆粒個數決定的。以激光法為例，懸浮液中顆粒濃度越高，散射光信號越強，但隨之而來的復散射的現象同時加劇，影響測量結果；反之懸浮液中的顆粒濃度越低，雖然復散射現象得到緩解，但信噪比下降，代表性也不夠，同樣影響測量結果

?使用激光粒度儀進行粒度測試，是目前應用最廣泛的一種粒度測試方法。早期的激光粒度儀用弗朗和費理論，這種理論不需要樣品折射率，但對小于5微米的樣品誤差較大。為了使激光粒度儀測量細樣品的精度更高,當今大部分粒度儀都采用Mie散射理論，這是一種精確描述顆粒對激光散射規律的理論，但Mie散射理論進行計算時需要