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Apreo SEM品牌
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Thermo Scientifific? Apreo SEM 具有*廣泛地適用性，可以 在*短時間內為材料研究人員提供**的成像質量。 當 Apreo 的電子束打開，形貌和成分襯度可以同時被鏡筒內探 測系統呈現：無需繁瑣操作，即可快速探索并獲取樣品各方面 信息。在高放大倍率下，Apreo 的長工作距離（如 10mm 分析 工作距離）也能表現出杰出的分辨性能。即使在絕緣、電子束敏 感或磁性的材料上，Apreo的用戶界面也可以高效地引導操作者 獲得表征該納米結構的**參數條件。 Apreo 能在短時間內 解決錯綜復雜的研究問題，適用于需要多功能以及多用戶操作 的應用場合。 Apreo 是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺， 其創新的末級透鏡設計，絲毫不會降低對磁性樣品的分辨能 力。 靜電式末級透鏡（Apreo C 和 Apreo S）能夠實現鏡筒內 多種信號的同時探測和高分辨率，而 Apreo S 則結合靜電、浸 沒式磁場的復合透鏡以進一步提高低電壓下的分辨率，在 1 kV 加速電壓下的分辨率為 1.0 nm，不需要電子束減速。通過將浸 沒式磁透鏡和靜電透鏡組合還可以實現特有的信號過濾功能。 Apreo 擁有透鏡內背散射探測器 T1，其位置緊靠樣品，確保在 較短的時間內獲得**量的采集信號。與其他背散射探測器不 同，這種快速的探測器在導航時、傾斜時或工作距離很短時能 夠始終保持良好的材料襯度。在表征敏感樣品時，探測器的優 越性能尤為突出，即使電流低至幾 pA，它也能提供清晰的背散 射圖像。Apreo S 復合末級透鏡通過能量過濾實現高質量的材 料襯度以及絕緣樣品的無電荷成像，進一步提高了 T1 BSE 探 測器的使用價值。Apreo 還提供了受歡迎的選配探頭來補充其 探測能力，例如定向背散射探測器(DBS)、STEM 3+ 和低真空氣 體分析探測器(GAD)。所有這些探測器都擁有獨一無二的軟件控 制分割功能，以便根據需求選擇*有價值的樣品信息。
全面實現納米或亞納米分辨性能，從納米顆粒，粉末，催化 劑和納米器件到塊狀磁性樣品等材料。 ***的背散射電子探測始終可保證良好的材料襯度，即使 是以低電壓和小束流并以任何傾斜角度對電子束敏感樣品 進行 TV 速率成像是也不例外。 無比靈活的探測器可將各個探測器分割提供的信息相結 合，讓用戶能夠獲得至關重要的對比或信號強度。 各種各樣的荷電緩解策略，包括樣品倉壓力**為 500 Pa 的低真空模式，可實現任何樣品的成像。 **的分析平臺提供高電子束電流，而且束斑很小。倉室支 持三個 EDS 探測器、共面的 EDS 和 EBSD 以及針對分析 而優化的低真空系統。 樣品處理和導航極容易，具有多用途樣品支架和 Nav-Cam+。 通過高級用戶指導、預設和撤消功能為新用戶提供專 家級結果。 高真空模式下成像的羥磷灰石晶體的低能量 (1 keV) 二次電子圖像。
每個 Apreo 都按標準配備各種用以處理絕緣樣品的策略，包 括：高真空技術，例如 SmartSCAN?、漂移補償幀積分(DCFI) 和 電荷過濾。對于*有挑戰性的應用，Apreo 可提供電荷緩解策 略。其中包括可選的低真空（**為 500 Pa）策略，通過經現場 驗證的穿鏡式差分抽氣機構和專用低真空探測器，不但可以緩 解任何樣品上的電荷，還能提供**的分辨率和較大的分析電 流。 隨著分析技術的使用越來越常規化，Apreo 倉室經過全新設計， 以便更好地支持不同的配件和實驗。倉室*多容納三個 EDS/ WDS 端口，可實現快速敏感的 X 射線測量、共面 EDS/EBSD/ TKD 排列并與（冷凍）CL、拉曼、 EBIC 和其他技術兼容。 所有這些功能都能通過簡單的樣品處理和熟悉的 xT UI 獲得， 節省了新用戶和專家級用戶的時間。可自定義的用戶界面提供 了諸多用戶指導、自動化和遠程操作選項。 通過所有這些優勢（包括復合末級透鏡、高級探測和靈活樣品 處理）， Apreo 可提供出色的性能和多功能性，幫助您應對未 來多年的研究難題。
.8 nm 電子光學器件 ? 高分辨率場發射 SEM 鏡筒，配有: – 高穩定性肖特基場發射電子槍，用于提供穩定的高分辨率分 析電流 – 復合末級透鏡：靜電、無磁場和浸沒磁技術結合而成的物 鏡* – 60° 物鏡幾何結構：支持傾斜較大的樣品 ? 自動加熱式光闌，可確保清潔和無接觸式更換光闌孔 ? 支持低真空*的穿鏡式差分抽氣結構，可減少電子束裙散效 應，以實現*精準的分析和**的分辨率 ? 載物臺偏壓在 -4000 V 到 +600 V 之間的電子束減速 ? 持續的電子束電流控制和經過優化的孔隙角度 ? 雙載物臺掃描偏轉 ? 輕松安裝和維護的電子槍 – 自動烘烤、自動啟動、無需機械合 軸? 保證的*短燈絲壽命：24個月 電子束分辨率 ，**工作距離 型號 Apreo C Apreo S 末級透鏡 靜電式 復合式 高真空 30 kV (STEM) 0.8nm 15 kV 1.0 nm 0.7 nm 1 kV 1.3 nm 1.0 nm 1 kV (樣品臺減速) 1.0 nm 0.8 nm 500 V (樣品臺減速) 0.9 nm 100 V (樣品臺減速) 1.8 nm 低真空* 15 kV 1.2 nm 3 kV 1
默認情況下，在完成*終安裝后的系統驗收測試中將檢驗在高真空并啟用浸沒 模式（如果適用）的情況下電壓為 1 kV 和 30 kV 時的分辨率。 電子束參數 ? 電子束電流范圍: 1 pA - 400 nA ? 加速電壓: 200 V – 30 kV ? 著陸能量范圍: 20 eV – 30 keV ? **水平視場寬：10 mm 工作距離下為 3.0 mm（對應于 *小 放大倍率 x29） ? 10mm 分析工作距離 1kV 時電子束分辨率: 1nm 倉室 ? 內寬: 340 mm ? 分析工作距離: 10 mm ? 12 個color:rgb(35,31,32);"> 500 Pa ? EDS 出射角度為 35° ? 可同時安裝三個 EDS 探測器, 兩個處于 180° ? 共面的 EDS/EBSD 與樣品臺的傾斜軸垂直。 探測器 Apreo 通過可用探測器或探測器的分割部分的任意組合，*多 可同時探 測四個信號： ? Trinity 探測系統 (透鏡內和鏡筒內) – T1 分割式透鏡內低位探測器 – T2 透鏡內高位探測器 – T3 鏡筒內探測器* ? ETD – Everhart-Thornley SE 探測器 ? DBS – 可伸縮分割式透鏡下 BSED* ? 低真空 SE 探測器* ? DBS-GAD - 安裝在透鏡上的氣體分析 BSED ? STEM 3+ – 可伸縮分割式探測器（BF、DF、HADF、HAADF)* ? IR-CCD ? Nav-Cam+? - 安裝在倉室內的樣品導航攝像頭 真空系統 ? 完全無油的真空系統 ? 1 × 220 l/s TMP ? 1 × PVP-渦旋泵 ? 2 × IGP ? 倉室真空（高真空）< 6.3 × 10-6 mbar（72 小時抽氣后） ? 抽氣時間：≤ 3.5 分鐘 ? 可選的低真空模式 ? 倉室壓力為 10 到500pa
lor:rgb(35,31,32);">分割和縫合 載物臺和樣品 類型 共心測角臺，5 軸電動 XY 110 × 110 mm 重復性 < 3.0 μm (0° 傾斜時) 電動 Z 65 mm 旋轉 n × 360° 傾斜 -15° / +90° **樣品高度 距共心點 85mm **樣品重量 任意載物臺位置均為 500g （0°傾斜時，**為 2kg） **樣品尺寸 可沿 X、Y 軸完全旋轉時直徑為 122 mm（若樣品超過此限值，則載物臺行程 或旋轉受限） 每個可選橫桿可容納 6 個 S/TEM 載網 ? 晶圓和自定義支架* 系統控制 ? 64 位 GUI (Windows 7)、鍵盤、可選鼠標 ? 24 英寸 LCD 顯示屏、WUXGA 1920 × 1200（第二臺監視器 可選） ? 可定制的圖形用戶界面，*多同時激活 4 個視圖 ? 圖像注冊 ? 蒙太奇導航 ? 圖像分析軟件 ? 撤消/重做功能 ? 有關基本操作/應用的用戶指南 ? 可選操縱桿 ? 可選的手動用戶界面（旋鈕板） 圖像處理器 ? 駐留時間范圍為 25 納秒 - 25 毫秒/像素 ? ** 6144 × 4096 像素 ? 文件類型：TIFF（8、16、24 位）、JPEG 或 BMP ? 單幀或 4 視圖圖像顯示 ? SmartSCAN（256 幀平均或積分、線積分和平均法、隔行 ? 掃描） ? DCFI（漂移補償幀積分） 配件（可選） ? 樣品/倉室清潔：FEI CryoCleaner、FEI 集成的等離子清洗器 ? 分析：EDS、EBSD、WDS、CL、拉曼 ? QuickLoader?：用于快速樣品傳輸的交換倉 ? 導航：關聯導航、MAPS
2);">應用培訓合同 ? FEI 氣體注入：*多 2 個單位（其他配件可能會限制可用的 GIS 數）， 適用于以下材料的電子束誘導沉積： – 鉑– 鎢– 碳? 機械手 ? 冷凍載物臺 ? 電氣探查/多探查臺 ? 靜電束閘 軟件選項 ? MAPS，適用于自動采集大型圖像和可選的相關工作 ? iFast，提供高級自動化功能 ? 具有網絡連接的數據歸檔軟件 ? 高級圖像分析軟件 文檔 ? 在線用戶指南 ? 使用說明手冊 ? 在線幫助 ? 適用 RAPID（遠程診斷支持） ? 免費訪問“FEI for Owners”在線資源 保修和培訓 ? 1 年保修 ? 可選服務維護合同 ? 可選操作/
35,31,32);">) 安裝要求 （請參考安裝前指南，以獲取詳細數據） ? 電源： – 電壓：100 - 240 V AC（-6%，+10%） – 頻率：50 或 60 Hz (±1%) – 能耗：< 3.0 kVA（基本款顯微鏡） ? 接地電阻：< 0.1 Ω ? 環境： – 溫度：(20 ± 3)°C – 相對濕度：低于 80% – 雜散 AC 磁場：在 20 ms（50 Hz 電源）或 17 ms（60 Hz 電 源） 線時間下，< 40 nT（異步）或 < 100 nT（同步） ? *小門尺寸：0.9 m 寬 × 1.9 m 高 ? 重量：鏡筒控制臺為 980 kg ? 建議使用干氮進行放氣 ? 干凈、干燥且無油的 4 - 6 bar 壓縮空氣 ? 系統水冷卻裝置 ? 噪音：根據相關聲譜進行現場調查 ? <span style=";font-size:13px;font-family:FZLTXHK;col
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提高礦物資源的生產效率和價值幾乎所有的現代工業材料和產品都依賴于其相應原材料的 開采、提取和質量。事實上，地質學和采礦業是水泥、陶瓷、 玻璃、金屬、化工、石化、半導體、先進設備和能源等多 種產品制造過
2023-03-28
玻璃是一種較為透明的固體物質, 在熔融時形成連續網絡結構，冷卻過程中粘度逐漸增大并硬化，屬于非晶態硅酸鹽類材料。目前，我國日用玻璃產量已躍居世界第一，并且光伏玻璃的全球占比超過90%，整個玻璃制品行業
2023-04-17
Thermo ScientificTM ARL PERFORM′X 順序式X 射線熒光（XRF）光譜儀為實驗室提供了一個先進的平臺，用于快速、準確分析多達90 種幾乎在所有固體和液體樣品中存在的元素。
2023-05-18
ARL OPTIMX X射線熒光光譜儀 ARL EQUINOX 1000 X射線衍射儀 ARL EQUINOX 100 X射線衍射儀 ARL QUANT’X能量散型 X 射線熒光光譜儀 元素分析綜合樣本 Perform'X_X射線熒光光譜儀 快速精準的玻璃原料和成品元素檢測 解決方案---提高礦物資源的生產效率和價值 
制藥和生物技術客戶對賽默飛展現的卓越能力、兼容并蓄、超高的專業性、優異的質量和堅實可靠給予了高度評價—— 賽默飛連續 11 年榮膺年度 CDMO 領軍企業獎，該獎項是由美國行業媒體 Outsource
賽默飛世爾科技中國區制造工廠春節后復工首日，各地舉辦了“開門紅，抓福氣”活動，預祝新的一年公司蓬勃發展，業務蒸蒸日上，員工幸福安康。而一周忙碌的工作后，又即將迎來元宵佳節，中國春節年俗中最后一個重要節
玻璃是一種較為透明的固體物質, 在熔融時形成連續網絡結構，冷卻過程中粘度逐漸增大并硬化，屬于非晶態硅酸鹽類材料。目前，我國日用玻璃產量已躍居世界第一，并且光伏玻璃的全球占比超過90%，整個玻璃制品行業
Apreo C場發射掃描電鏡帶能譜儀的工作原理介紹？Apreo C場發射掃描電鏡帶能譜儀的使用方法？Apreo C場發射掃描電鏡帶能譜儀多少錢一臺？Apreo C場發射掃描電鏡帶能譜儀使用的注意事項Apreo C場發射掃描電鏡帶能譜儀的說明書有嗎？Apreo C場發射掃描電鏡帶能譜儀的操作規程有嗎？Apreo C場發射掃描電鏡帶能譜儀的報價含票含運費嗎？Apreo C場發射掃描電鏡帶能譜儀有現貨嗎？Apreo C場發射掃描電鏡帶能譜儀包安裝嗎？
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